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LIBS/ LA-ICP-MS|Applied Spectra|雷射剝蝕誘導電漿元素分析串聯系統

固態樣品直接分析,「全週期表」元素分析,寬廣濃度範圍:從ppb~ %,協助您了解材料的主成分與微量雜質 以及 2D/3D mapping元素分佈探討。

技術特色

 

依樣品搭配合適的雷射波長

 

  • 奈秒(ns)、飛秒(fs)雷射源

雷射自動調整高度

 

  • 不受樣品表面狀態影響,可精準剝蝕目標待測物

可分析週期表上所有元素

 

  • 輕元素:Li, Be, B, C, Na, Mg
  • 有機材料元素:O, H, F, N
  • transition metal:Ti, V, Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Y, Hf, W, Mo, Zr, Ag, Cd, etc

直接在大氣環境下實驗,無須抽真空與樣品前處理

 

  • 無樣品型態限制
  • 可分析表面凹凸不平的樣品

分析速度快

 

  • 於奈秒內產生電漿後放光,收集數微秒的不連續光譜完成分析

2D/3D mapping,適用於薄膜分析、空間分析

LIBS/LA Tandem ICP-MS系統,同時分析物質主成分與微量雜質
  • 以LIBS量測輕元素(ex) H, C, N, B, F等
  • 以LA-ICP-MS串聯系統,量測ppb level微量分析。
  • 軟體支援所有廠牌ICP-MS

 

Laser Ablation(LA)原理

當高能量雷射光聚焦於待測樣品表面,進行樣品剝蝕,稱之為雷射剝蝕(Laser Ablation)。

 

Laser Induced Breakdown Spectroscopy(LIBS)原理

LIBS= Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LA-OES)

樣品因受雷射剝蝕而激發物質產生電漿,這時於激發態的離子會放光回到基態。藉由收集不同元素的特徵光譜,以達到週期表上所有元素的鑑定分析,甚至是C, H, O, N, F等輕元素,LIBS亦可得到訊號。

 

ASI 科學小教室-原理設備詳細介紹

應用文章

 

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