LIBS|Applied Spectra|雷射剝蝕誘導電漿元素光譜分析儀
滿足固態進樣，元素空間分佈解析及深度分析的「全週期表」元素分光儀。
滿足固態進樣，元素空間分佈解析及深度分析的「全週期表」元素分光儀。
LIBS = Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LA-OES)
直接固體進樣，無需前處理過程
能夠進行「全週期表」元素分析，包括輕元素：C，H，N， Li，Be，B，Mg 等
得到樣品中元素的 2D 空間分佈及縱深度(3D)分析
雷射光源自動調焦系統，不受樣品表面高低影響
可調整取樣面積(5-200 µm)，維持樣品完整度
奈秒(ns)、飛秒(fs)雷射脈衝
數秒獲得高解析度數據圖譜
無需真空條件，可在一般環境下直接分析
雷射剝蝕 (LA, Laser Ablation) 是將高功率的雷射光束聚焦到待測樣品表面，對樣品進行微取樣(剝蝕)的技術。
樣品從被雷射剝蝕到光譜分析的過程：
◾雷射光束聚焦到樣品表面產生雷射電漿，剝蝕部分樣品。高功率雷射電漿在奈秒 (ns) 內快速擴散到樣品上，繼續反應形成含有激發態原子，離子及電子的電漿。
◾當雷射脈衝結束後，電漿隨即開始冷卻，原先處於激發態的電子降回基態，使得電漿放光。前期(<200-300 nsec) 釋出的是連續光譜(白光)；後期(>1 µsec)釋出的則是分離的元素特徵光譜。
◾放射光譜經光纖收集至偵測器進行分析。藉由換算光譜峰值的強度，即可得知樣品元素組成及其濃度含量。
以上為手持式 XRF，手持式 LIBS 及桌上型 LIBS 的比較表。
目前市面上的 LIBS 多為用的手持式 LIBS (Handheld/Portable LIBS)，又稱手持式雷射分光光譜儀。因為有更快的分析速度且能夠測定輕元素 (C，N，O，F，Li 等) 的特性，繼手持式 XRF 後，手持式 LIBS 成為業者們的青睞，應用在材料尤其鋼鐵合金牌號上的快速篩檢與確認。
手持式儀器因設備設計限制了激發源與內部元件設置上的空間，進而限制分析元素種類及其偵測濃度。相較之下，桌上型儀器在樣品槽，分光零件及偵測器上有更好的設置空間與條件，線性濃度範圍廣且數據品質穩定，通常可作為相關法規標準規範的依據。故桌上型 LIBS 囊括了所有手持式 LIBS 的優勢以外，亦能夠進行元素在樣品的空間，深度解析，提供樣品多層次的資訊。
Applied Spectra 的桌上型 LIBS (Benchtop LIBS) 可串聯上市面上所有品牌的 ICP-MS，結合雷射，光譜與質譜的優勢，一次擁有從 ppb 至 % 的濃度級別之樣品中主要成分，微量元素，同位素含量組成分析及元素空間解析。
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