Rightek

技術特色

依樣品搭配合適的雷射波長

• 奈秒(ns)、飛秒(fs)雷射源

可分析週期表上所有元素

• 輕元素：Li, Be, B, C, Na, Mg
• 有機材料元素：O, H, F, N
• transition metal：Ti, V, Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Y, Hf, W, Mo, Zr, Ag, Cd, etc

直接在大氣環境下實驗，無須抽真空與樣品前處理

• 無樣品型態限制
• 可分析表面凹凸不平的樣品

分析速度快

• 於奈秒內產生電漿後放光，收集數微秒的不連續光譜完成分析

2D/3D mapping，適用於薄膜分析、空間分析

• 以LA-ICP-MS串聯系統，量測ppb level微量分析。

鋰電池爆炸事件，逆向工程探討電池製程問題

鋰電池由碳材、鋰合金氧化物作為電極材料，由有機材料隔開正負電極，並於其中填充電解液。然而，當電池在充/放電時會進行放熱，當電池反應過於劇烈且無法控制溫度時，進而造成有機隔離膜破裂，引發爆炸。在本篇應用中，我們藉由LIBS進行鋰電池各層分析以及製程材料鑑定，進而了解爆炸原因… (閱讀更多)

分析製程之中含鹵物質! LIBS量測樣品中氟含量與分佈

在藥品、醫材用品以及塑膠產品中，F含量時常扮演製程中重要的角色，由於F的游離能極高，ICP的Ar電漿無法激發、游離F。

而LIBS則是以雷射剝蝕(LA)樣品，此種方式可產生比ICP更高能量的plasma(約15000-18000K)，這也是為什麼可以使用LIBS量測F。(閱讀更多)

礦砂快速鑑定，進口廠商進行礦產品管分析

在非洲，爭議礦產問題嚴重，各國為了抵制這些不法來源的礦產，嚴格把關進口礦砂來源。由於以ICP、AA、XRF進行分析時，需要繁雜的前處理步驟。在此案例中，我們藉由LIBS直接分析固態樣品，並且搭配後端資料庫，快速且有效得知礦砂來源… (閱讀更多)

LIBS量測玻璃碎片元素分佈，追溯玻璃來源，協助警方破案

案發現場的玻璃四濺，由於拿到的待測玻璃都是凹凸不平的狀態，導致XRF不能得到穩定的分析數值。我們利用LIBS技術，成功追溯玻璃來源…(閱讀更多)