滿足固態進樣,元素空間分佈解析及深度分析的「全週期表」元素光譜分析儀。
雷射剝蝕誘導電漿元素光譜分析 (LIBS, Laser-Induced Breakdown Spectroscopy)
是一種利用雷射光束產生電漿的發射光譜分析之新興元素分析技術,係利用雷射光束產生電漿,直接固體進樣的發射光譜分析儀 (Optical Emission Spectroscopy)。
LIBS 能夠做到:
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雷射剝蝕誘導電漿元素光譜分析 (LIBS, Laser-Induced Breakdown Spectroscopy) 原理
雷射剝蝕 (LA, Laser Ablation) 原理
-將高功率的雷射光束聚焦到待測樣品表面,對樣品進行微取樣(剝蝕)的技術,稱為雷射剝蝕(LA)。被剝蝕的樣品繼續激發形成含有激發態原子,離子及電子的高能量電漿,再由放射光譜儀進行後續分析。
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LIBS = Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LA-OES)
LIBS 就是將雷射剝蝕(LA)技術串接到耦合電漿光學發射光譜儀(ICP-OES)上的,無需進行樣品前處理,直接分析樣品的光學儀器。
LIBS 雷射剝蝕誘導電漿元素光譜分析優勢
目前市面上的 LIBS 多為用於快速檢測鋼鐵合金成分的手持式 LIBS (Handheld/Portable LIBS),又稱雷射分光光譜儀。手持式 LIBS 也因為有更快的分析速度,能夠測定輕元素 (C,N,O,F,Li等) 的特性,繼手持式 XRF (X射線熒光光譜儀,X-ray Fluorescence Spectrometer) 後成為業者們的青睞,應用在快速進行製程材料的辨別與確認。
桌上型 LIBS 和手持式 LIBS 之間的差別在於:因受限於產品設計,手持式 LIBS 只有固定的雷射波長,無法進行元素在樣品中的空間解析外,對含有較多短波長元素 (如碳) 的樣品而言,需要較大的能量來被激發。而桌上型 LIBS 是為較大型的設備,故在樣品槽,分光零件及偵測器的位置上比手持式有更好的空間設置與條件,數據品質更佳,偵測極限相對較低。雖然 XRF 能夠做到樣品的無損檢測,但 LIBS 能夠測定 C,N,O 等環境基質主要元素,且桌上型 LIBS 能夠進行樣品的空間,深度解析,提供樣品多層次的資訊。
以下為手持式 XRF,手持式 LIBS 及桌上型 LIBS 的比較表:
儀器 |
手持式 XRF |
手持式 LIBS |
桌上型 LIBS |
元素範圍 |
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激發原理 |
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雷射波長 |
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檢測範圍 |
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測試時間 |
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最大取樣面積 |
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2D/3D空間解析 |
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數據穩定性 |
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樣品品質 |
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操作人員要求 |
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雷射安全等級 |
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Applied Spectra 的桌上型 LIBS (Benchtop Laser-Induced Breakdown Spectroscopy) 提供穩定精準的分析環境,且內建軟體能夠快速有效地轉換數據及圖譜呈現,提供您最佳的全週期表元素分析體驗。
若想要得到微量元素及同位素的資訊,Applied Spectra 桌上型 LIBS 系統能夠串聯上市面上所有品牌的 ICP-MS,結合雷射,光譜與質譜的優勢,一次擁有從 ppb 至 % 的濃度級別之樣品中主要成分,微量元素,同位素含量組成分析及元素空間解析。(點我了解更多)
儀器特色 |
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雷射 |
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分析範圍 |
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樣品 |
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分析速度 |
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空間解析 |
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LIBS/LA Tandem 系統 |
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ASI 科學小教室-原理設備詳細介紹
應用文章
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