在外延層(Epi)製程與品質分析中，EPI膜厚是關鍵的製程與品質指標。紅外反射IR量測因其非破壞、快速、可重複的特性，已逐漸成為EPI膜厚分析的重要工具。然而在實際應用時，即使是同一片Wafer"同一
READ MORE在先進半導體與功率元件製程中，外延層（ Epitaxial Layer, Epi ）膜厚控制早已不只是製程參數之一，而是直接影響元件電性、可靠度與良率的關鍵因子。 本文將從 Epi 膜厚的重要性、主流
READ MOREWhat’s New with the FS5 v2 in 2025? 單光子計數，零雜訊干擾 FS5 v2 採用單光子計數（Single Photon Counting, SPC）偵測技術，不同於傳
READ MORETime Series Raman 實現對鋰硫電池中 SPAN 材料的原位動態觀測，揭示 shuttle-free 機制與 C–S 鍵可逆反應。Thermo DXR Raman 以連續量測與 3D 光譜視覺化，完整描繪充放電反應路徑，助力新世代電池研究
READ MORE本文章想跟您分享我們的喜悅： 1.藉由材料物理與化學吸脫附分析儀，我們可以協助您分析不同功能目的的孔洞材料 2.微反應器產品線，藉由流化/固定床等架構了解孔洞材料的實際應用
READ MORE