Laser Ablation雷射剝蝕是將高功率的雷射光束聚焦到待測樣品表面，對樣品進行微取樣的技術。被剝蝕的樣品繼續激發形成含有激發態原子，離子及電子的高能量電漿，再由光纖傳送到OES或ICPMS進行後續元素分析，解決難消解如鋰電池原料、精密陶瓷、碳粉等材料分析瓶頸。
Applied Spectra 的LA系統除了可分別與ICP-OES及市面上所有廠牌的 ICP-MS結合成為能夠固體上樣的光譜儀或質譜儀，也能夠直接升級成為雷射-光譜/質譜分析儀，結合三者的優勢，一次擁有從 ppb 至 % 的濃度級別之樣品中主要成分，微量元素，同位素含量組成分析及元素空間解析。
以LIBS/LA-ICP-MS進行鋰電池分析，量測主成分元素(ex)Li, O與微量不純物元素的深度分佈
在深度分析上，由LIBS可得知各層的主成分含量是否吻合製程設計。另外，藉由串連ICP-MS，我們可進一步得知微量元素含量，探討不純物對於電池效能的影響。(閱讀更多)
石油類樣品不易前處理? 利用TLC(Thin-Layer Chromatography)與fs LA- ICP- MS技術分析，排除您複雜的消化問題
石油類樣品在進行樣品前處理步驟時，需耗費大量樣品與試劑，此外，有機物質添加酸會產生劇烈反應。本文利用TLC技術分離待測物質，以fs LA- ICP- MS分析油品中的元素含量。(閱讀更多)
解決鹽酸中氯(Cl)干擾問題：使用fs LA- ICP- MS分析米殼中的砷(As)含量分布
本文藉由fs LA直接剝蝕稻米，進行深度分析，探討米粒在不同厚度時的含As程度。由於無須額外添加試劑進行消化，有效解決40Ar35Cl+干擾問題。(閱讀更多)
