▸將傅立葉轉換紅外線光譜儀(FTIR)與顯微鏡(Microscope)完全結合
▸標準配備室溫與低溫雙偵測器，增加儀器使用的靈活性
▸節省維護成本的「獨立式」顯微紅外線光譜儀
▸「所見即所得」，即時光譜比對功能
▸護眼無痕光圈方便使用者精準鎖定量測範圍
▸自動化背景收集功能，簡化分析流程
▸使用穿透(transmission)、反射(Reflection)、ATR(Attenuated total reflection)衰減式全反射三種量測模式進行實驗分析
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偵測器 |
DTGS / MCT-A / MCT-A ( linear array ) |
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雷射 |
HeNe ( 五年保固 ) |
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載台 |
全自動 |
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採集 |
Map 區域 / Spectrum 單點或多點 |
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物鏡 |
15×, 0.7 N.A. |
節省維護成本的「獨立式」顯微紅外線光譜儀
Nicolet iN10顯微紅外線光譜儀整合傅立葉轉換紅外線光譜的主要元件：光源、干涉儀、校正雷射與偵測器在同一個設備之中，有別於以往需要透過紅外線光譜儀主機提供燈源，加上需要工程師進行校準的額外光路與鏡組，iN10因為獨立式的設計，能量與雜訊都取得最佳的平衡與優化，使得可以搭載一般顯微紅外線光譜儀不會使用的DLaTGS偵測器。同時對於使用者來說，在保養與維護成本都減少一半。
搭載雙偵測器標準配備室溫DLaTGS及低溫MCT
Nicolet iN10顯微紅外線光譜儀整合傅立葉轉換紅外線光譜的主要元件：光源、干涉儀、校正雷射與偵測器在同一個設備之中，有別於以往需要透過紅外線光譜儀主機提供燈源，加上需要工程師進行校準的額外光路與鏡組，iN10因為獨立式的設計，能量與雜訊都取得最佳的平衡與優化，使得可以搭載一般顯微紅外線光譜儀不會使用的DLaTGS偵測器。同時對於使用者來說，在保養與維護成本都減少一半。
「所見即所得」，即時光譜比對功能
iN10由於獨立式設計，讓CCD影像與顯微紅外光譜的光學可以更有效的整合，讓使用者可以同時觀察CCD影像(左圖右上)和顯微紅外的光譜(左圖中下)，除此之外，iN10的獨家『即時資料庫比對』設計，讓使用者更進一步在收集光譜前就先知道樣品上的污點來源，是來自於樣品本身，還是屬於外來汙染，這對於應對客訴或者確立問題解決方向等有時間壓力的分析需求，都可以增取更多的時間。
『時間就是金錢』–班傑明‧富蘭克林（Benjamin Franklin）
護眼無痕光圈
顯微紅外線光譜儀為了減少來自樣品以外的訊息干擾，在顯微紅外光線抵達偵測器前，基本上都會經過一個已知尺寸的光圈，Nicolet iN10透過精準的步進馬達調整適合的尺寸與旋轉角度，使得光圈可以覆蓋有效的樣品區域，此外iN10的光學設計，可以讓使用者在CCD影像上直覺了解到紅外線光覆蓋的區域(如左圖右側藍斑區域)。
我們知道在顯微紅外分析是非常挑戰眼力的一門分析項目，因此在樣品的觀察上，iN10可以減少使用者的眼力負擔，也減少分析上的誤差，提升整體的分析效率。
自動化背景收集功能，簡化分析流程
紅外線光譜的取得都必須有一張所謂的背景光譜來進行扣除，而在顯微紅外線光譜分析的流程中，在iN10的自動化背景收集功能出現前，往往會發生在錯誤位置收集，或者是在收集完樣品光譜之後，還需要花費額外的動作尋找適合的位置收集背景光譜。
iN10的自動化背景收集功能，可以在參數中直接設定讓iN10自己前往預定義的位置進行背景光譜收集，無形中簡化了每次顯微紅外光譜分析的流程，提升整體的分析效率。
1)要分析樣品小於0.5mm2的『區域』或者『顆粒』
2)材料或者產品表面具不同物質分布，且這些分布帶或者區理論上小於0.5mm
3)您需要分析0.5mm2區域內發現的幾十到幾百個細小顆粒時
適合樣品：分析面積小於0.5mm2(大於2mm2則由FTIR分析)
分析方式依據下圖主要分為三種型式：
1)穿透(Transmission)
2)反射(Reflection)
3)衰減式全反射(ATR)
