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研討會資訊： |
隨著材料科技不斷的突破與創新，材料之結構組成顯越顯重要，其中包含磁性、光性、電性、力學、吸附、磨耗、氧化等等，而分析技術亦與材料的製程、設計及品質息息相關。
如今材料的表面性質及結構特性之分析方法亦呈現多元化的發展，現代的分析技術/設備更朝高精確度、高解析度、更微觀及不同材質如薄膜、奈米材料、低微度材料…等分析方法開發解決方案。
利泓科技基於在產業及學界所累積多年之分析設備經驗，希望藉由此次研討會和與會貴賓分享及交流包括逆相層析表面能分析、共軛焦光譜、表面增益光譜、傅立葉轉換焦平面陣列(FPA)紅外光光譜及粒徑分析技術的經驗。
歡迎各單位先進踴躍報名及親臨會場指教。
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舉辦時間地點： |
日期：2015年12月17日 星期四
時間：上午9:00 – 下午4:30
地點：台北市進出口商業同業公會 3F第2會議室
地址：台北市中山區松江路350號
主講人：UniＮanoTech 陳景翔 博士
利泓科技產品開發部 李佳瑜 博士
利泓科技業務部 谷文 經理
利泓科技技術支援部 陳姵君 經理
主辦單位：利泓科技有限公司
協辦單位：台灣合成樹脂接著劑工業同業公會
報名日期：即日起至2015年12月14日或額滿止
費 用：免費
| 研討會議程 | ||
| 時間 | 主題 | 主講者 |
| 09：00 ~ 09：20 | 報到 | |
| 09：20 ~ 09：30 | Openning | |
| 09：30 ~ 10：30 | 表面增益拉曼光譜於材料應用 | UniＮanoTech
陳景翔 博士 |
| 10：30 ~ 10：40 | Break |
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| 10：40 ~ 12：00 | 共軛焦光譜系統於材料應用 | UniＮanoTech
陳景翔 博士 |
| 12：00 ~ 13：20 |
Lunch |
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| 13：20 ~ 14：10 | 粒徑分析儀於材料應用 | 利泓科技產品開發部
李佳瑜 博士 |
| 14：10 ~ 14：20 | Break | |
| 14：20 ~ 15：10 | 傅立葉轉換焦平面陣列(FPA)紅外成像技術於材料應用 | 利泓科技業務部
谷文 經理 |
| 15：10 ~ 15：20 | Break | |
| 15：20 ~ 16：00 | 表面能分析技術簡介及材料應用 | 利泓科技技術支援部
陳姵君 經理 |
| 16：00 ~ 16：30 | Q & A | |
※講義將於會後透過Email發出，報名時請務必留下正確的Email，謝謝
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報名方式： |
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交通資訊： |
