在過去的50年裡，雷射剝蝕(Laser Ablation)在化學分析上逐漸成為重要的技術，由於常利用於ICP/ ICP-MS前端作為固態樣品的前處理。然而，事實上，我們亦可以在雷射剝蝕發生時，加入偵測器進行材料的光譜分析，例如：LIBS（雷射誘導元素光譜）、LAMIS（雷射誘導分子同位素光譜）。
課程內容
•飛秒雷射剝蝕(Laser Ablation)與LIBS和LA-ICP-MS測量之關係
•探討飛秒雷射增加儀器穩定性的原因
•Femto LA-LIBS系統的技術優勢
•實際案例分享
誰適合參加？
– 想了解奈秒(ns)與飛秒(fs)雷射差異的LA-ICP-MS研究人員
– 想了解固態樣品快速分析、材料深度分析、薄膜分析
– 希望以LA-ICP-MS測量C，H，O，N，F等有機元素與鹵素的研究人員
– 被液態樣品纏身的分析人員
– 想了解連奈米雷射都無法解決的應用
– 對飛秒雷射原理感興趣的人
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講者介紹 |
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Dr. Jhanis Gonzalez |
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Applied Spectra產品研發和管理技術總監Jhanis Gonzalez博士研究固體樣品的化學分析、雷射誘導全元素光譜已經接近20年。他是Lawrence Berkeley National Laboratories的客座科學家，化學博士後研究員和專案科學家，並在“Journal of Analytical Atomic Spectrometry”上發表許多相關研究。 Jhanis主要研究LIBS和LA-ICP-MS分析，協助Applied Spectra的產品技術在市場上始終獨佔鰲頭。他於Universidad Central de Venezuela, Caracas獲得化學學士學位和物理化學博士學位。 |
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