利泓嘎哩共 EP1 -μm尺寸下的元素分析- LIBS /LA雷射剝蝕誘導元素光譜儀暨串聯系統

利泓科技 LIBS技術專員 廖婉淨

微區元素分析技術，如: SIMS、AES、GD-MS、SEM/EDS、μ-XRF等，並非罕見與新穎的偵測方法，普遍應用於: 材料表面的缺陷分析、生物或植體切片的金屬分佈、金屬中不純物分析等。

然而，這些高階設備將材料的分析尺寸維度分成極端的兩邊: nm-Å與μm-mm。因此，我們可能面對以下問題：

1. 材料厚度為10μm，深度分析耗費數小時才能完成檢測，實際分析上並不需要細微的深度解析度
2. 分析技術其激發方式，不能分層分析
3. 樣品表面非導體，coating金屬後，發現造成材料表面汙染
4. 分析時需為高真空狀態，樣品從置入到開始分析，需等候1天儀器才能穩定
5. 在本集討論中，我們將和你分享銜接極端尺寸的技術 – LIBS /LA雷射剝蝕誘導元素光譜儀暨串聯系統。

*註: 參加本次活動者，可來信索取登記研習證明。

*註: 本次會議會進行錄影，若不克參加，請回信和我們索取影片。