首頁 利泓專欄 螢光光譜應用文章(Fluorescence Spectrophotometer) 高階螢光光譜儀Time-Resolved Photoluminescence spectrofluorometer 2025年全新升級v2
單光子計數,零雜訊干擾
FS5 v2 採用單光子計數(Single Photon Counting, SPC)偵測技術,不同於傳統採用類比偵測的桌上型螢光光譜儀,可有效消除電氣雜訊干擾,大幅提升訊號靈敏度與穩定性。其水拉曼訊號雜訊比(SNR)高達 >12000,為目前業界最高規格,讓 FS5 v2 成為對極弱螢光訊號也能穩定量測的領先系統。
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「多數市售系統」仍受限於傳統波段,FS5 v2 則突破框架
“激發與放光範圍遠超同級設備”
FS5 v2 採用可擴充偵測模組,激發波長可深入 <200 nm 深紫外區,搭配 NIR 偵測器後,放光波長更可延伸至業界罕見的 2025 nm。此級距遠超多數標準桌上型螢光儀,涵蓋從深紫外至近紅外的全光譜範圍,為高階材料分析與光電研究提供前所未有的彈性。
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因應未來而設計,機殼全面進化
FS5 v2 在使用者體驗上全面升級,機殼設計經過重新優化,讓雷射模組的更換變得前所未有的簡單、安全且快速,大幅降低維護與升級門檻。
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主動式閘控(Active Gating):
在多通道計數(MCS)量測中,強螢光訊號往往掩蓋了關鍵的弱磷光訊號,使研究人員難以取得完整發光行為資訊。FS5 v2採用主動式閘控(Active Gating)技術,能在偵測器層級即時切換開關,準確分離瞬時螢光與延遲磷光,有效防止因高強度激發造成的過曝問題,進而保留弱訊號細節、還原完整光譜輪廓。
無論是研究 TADF 材料的延遲螢光特性,還是觀測奈秒級與微秒級的複合發光行為,Active Gating 都能提供時間解析與強度管理的雙重保障,確保數據準確、重現性高。
TCSPC++高分辨率Lifetime測量
TCSPC++ 模組透過新增混合式光偵測器(Hybrid Photodetector),在保留標準 PMT 的同時,將偵測波段擴展至 220–870 nm,適用於更廣泛樣品的光譜量測。搭配既有的 1200 g/mm 發射光柵,使用 EPL雷射光源可實現約100 ps的儀器響應時間(IRF),並將最短可測螢光壽命提升至業界領先的 ~15 ps。
下圖所示,TCSPC++ 相較 TCSPC 及 TCSPC+ 可大幅提升時間解析度,讓極短壽命螢光訊號得以清楚解析,適合用於研究超快動力學與新型發光材料。
全新介面設計,亮暗主題自由切換
軟體提供深色與淺色主題介面,可依使用者偏好切換,提升長時間操作舒適度。同時支援自訂繪圖樣式的儲存、匯入,讓繪圖格式、顏色、比例設定更彈性,適用於個人化分析需求。
多樣的功能整合於同一軟體
螢光放光、Lifetime和PLQY的圖譜量測與分析功能整合同一軟體
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自動化的實驗設計
FluoAuto:編排自動化量測程序,將實驗一次設定完成。
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螢光材料的定量分析
軟體內可建立檢量線進行螢光的定量分析
PLQY 分析功能更新
Fluoracle 3.0 提供先進的 PLQY 分析功能,可同時比對多組樣品並共用參考掃描,提升效率與一致性;系統具備即時結果更新與激發波段自動辨識功能,操作更直覺;同時自動套用中性密度濾光片的強度校正,確保量測結果的準確性與穩定性。下圖為 PLQY 分析畫面,展示多樣品在相同參數設定下的吸收與放光光譜、以及自動計算之量子產率(QY %)結果。
Lifetime 分析升級
全新Lifetime分析功能可自動提供初始參數,使用者只需選擇壽命分量數量,即可快速完成多指數衰減曲線擬合,大幅簡化分析流程並提升準確性。
突破溫度極限的光纖模組 – SC-90 全新開發
為滿足高低溫環境下的光譜量測需求,全新開發了 SC-90 溫控模組,具備光纖耦合功能並整合低至 -196 °C、高達 +600 °C 的寬溫控範圍,擴展實驗室在極端溫度條件下的螢光量測與材料分析能力。
吸收光譜自動化量測 – SC-06全面升級
SC-06 配備兩個比色槽位置,可支援樣品與參比比色槽同時安裝,透過儀器自動切換測量通道,即時執行吸收光譜的扣背景與校正,大幅減少實驗干擾與手動操作誤差。同時省去頻繁更換比色槽的時間,有效提升整體量測效率與實驗流程的一致性。
MicroPL:將螢光光譜儀拓展為微區螢光與壽命分析平台
結合 MicroPL 升級模組後,FS5 螢光光譜儀可擴展為一套具備微區螢光光譜與時間解析壽命量測能力的多功能分析平台。系統支援寬場與點激發模式,能針對樣品微米尺度區域進行螢光光譜與螢光壽命(TRPL)分析,並可進一步執行螢光壽命影像(FLIM)量測。
單點光譜與Lifetime分析![]() |
寬場螢光影像![]() |
配合 Fluoracle Map軟體,使用者可自動化控制 XYZ 電動樣品平台,完成高解析度的壽命成像與多組分衰減分析,無需額外圖像處理軟體。此升級配置適用於生命科學、材料科學與光電元件等領域,且適合研究樣品內部結構、非均質性或局部螢光特性變化。FS5 搭配 MicroPL提供從穩態光譜、時間解析量測到微區螢光成像的完整分析方案,有效擴展其在高階螢光研究中的應用範圍。
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