有可能即時偵測與控制Lipsome的奈米粒徑大小嗎？

　　過去奈米粒徑的分析常見的有動態光散射(DLS)與掃描電子顯微鏡(SEM)等方式，前者根據奈米粒子粒徑與布朗運動速度呈反比相關的特性，即粒徑越小，奈米粒子的布朗運動越快，搭配Stokes–Einstein方程式可求得奈米粒子的粒徑大小。後者則是直接觀察到奈米粒徑的大小，但主要限制是只能觀察一小部分的奈米粒徑，統計上的代表性比較不足，所以我們習慣採用動態光散射的方式。

　　在隨時控制品質而需要即時分析的製程中，傳統的動態光散射因為必須在靜態的溶液中分析，同時在濁度較高的樣品條件下，會產生多重散射影響量測的準確度，此外為了達到具代表性的粒徑分布結果，通常會需要花費至少數分鐘的分析時間，已經無法滿足即時分析製程狀態的需求。