首頁利泓專欄雷射剝蝕應用文章(LIBS/LA-ICP-MS) 直接表面分析時代，您的ICP- MS該升級固體進樣了

直接表面分析時代，您的ICP- MS該升級固體進樣了

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日期2017-10-05

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以ICP- OES或ICP- MS進行微量元素檢測，已經是目前非常成熟的技術，其可快速分析且得到穩定數值。然而，進行此技術的同時，你應該時常遇到以下問題：

整合性分析軟體，升級至LIBS/ LA-ICP-MS串聯系統，提供廣泛元素檢測範圍ppt- % level，亦協助您的ICP- MS直接進行固體表面2D分析與深度3D分析

Applied Spectra

ASI (Applied Spectra Inc.)開發LIBS (Laser Induced Breakdown Spectroscopy)技術，可進行週期表上所有元素(包含C, H, O, N, F等輕元素)的鑑定分析外，獨家軟體設計，直接串聯實驗室ICP- MS，進行樣品微量分析。

想了解更多關於LA/ LA- ICP- MS技術嗎？讓Dr. Russo說給你聽：https://youtu.be/Oa4Pl_f0TWY

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歡迎來信索取完整版應用文件，利泓科技業務部：sales@rightek.com.tw

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