不用酸消解，雷射光譜/質譜讓你的樣品得到元素空間資訊－最新的 LIBS/LA-ICPMS 元素分析技術

作者Editor
日期2021-04-13
分類

我們想讓你知道的是

  • 傳統使用酸消解法會造成的分析限制

  • 雷射光/質譜法是如何不需要前處理且數秒內可以得到元素資訊

  • 相對酸消解法，利用 LIBS/LA-ICPMS 固體直接量測元素有哪些好處？

想要有人說給你聽什麼是 LIBS/LA-ICPMS 嗎？

不要錯過我們五月的線上研討會。

還在使用酸消解法上機嗎？

這樣的前處理方式會造成哪些分析風險呢？
過去在分析元素的時候，最常使用的前處理方式就是酸消解法了。簡單來說是將固體樣品藉由酸在高溫下破壞分子結構，使固體樣品變成液體樣品，這樣分析方式已經是非常廣泛的使用在各種元素分析儀器上，這樣的分析方式有哪些風險呢？

消化不完全可以造成回收率到損失
樣品都需要利用加熱板，微波消化等將樣品消解成液體型態後才能夠上機分析。所以樣品你必須熟悉樣品特性選對適合的酸，否則可能會有無法消化完全的問題，影響到後續回收率。

樣品前處理過程易造成元素逸散損失
樣品前處理過程使用高濃度酸劑或強氧化劑進行加熱消解，易造成元素如 B，Hg，As 等金屬的逸散，同時產生大量廢液，增加操作的安全風險。

僅提供元素總量分析結果，並無空間資訊
分析液態樣品得到的是總量即平均濃度資訊，無法得知元素在樣品中空間分佈機制和趨勢。 

酸消解需要耗費數小時甚至數天的時間
即使具有精準度高的元素分析結果，但酸消解所產生的耗材及分析時間成本不符合效益。 

對 C、H、O、F 等非金屬元素具有偵測限制
C、H、O 等富含於背景環境中元素易在質譜儀中產生譜線上的干擾；而耦合感應電漿主要使用的氬電漿對第一游離能較高的 F 元素游離化效率不佳。

雷射光譜/質譜法是如何數秒內得到元素資訊？

LIBS 雷射光譜/質譜法是利用雷射聚焦到樣品表面，產生高溫電漿剝蝕 (Laser Ablation) 樣品，使之激發放光進行光譜分析，而雷射電漿使樣品同時產生熔化氣化反應形成奈米粒子，透過載流氣體送入質譜中進行分析，進而得知元素光譜/質譜資訊。

相對酸消解法，利用 LIBS/LA-ICPMS 固體直接量測元素有哪些好處？

  1. 不需要樣品前處理就能夠進行元素分析
    LIBS 使用雷射剝蝕技術 (LA) 直接對樣品進行剝蝕 (取樣) 同時激發元素放光，就能夠進行元素分析。後續也可以送到 ICP-MS 量測微量元素。
     
  2. 能分析元素週期表所有元素，尤其 F、C、H、O 、Mg、Ca 等非金屬元素 
    LIBS 對輕元素、非金屬元素及有機元素如 F、C、H、O 、Mg、Ca 等有著良好的靈敏度。
     
  3. 能夠提供元素在樣品中的深度分析及空間分佈
    LIBS 所配置的 LA 技術在樣品定點持續進行剝蝕，即可獲得元素在樣品不同層面，深度的 2D/3D 圖譜數據結果，能夠探討元素在樣品中反應及作用機制。
     
  4. 可快速釐清產品材料來源
    只需數秒就能夠提供樣品的多種元素分析結果，軟體內建 PCA 演算法可快速比對，釐清原材料來源。高效的檢測效率適用於生產過程中的品管控制。
     
  5. 在一般空氣中即可進行分析
    與 ICP-MS，EDS-SEM 相比，LIBS 無需真空系統即可進行元素分析，減少許多潛在的成本消耗。
點我了解更多雷射剝蝕技術(LA)

以下是為了能夠滿足段落所需的長度而定義的無意義內文，請自行參酌編排。

利泓科技研討會

雷射光譜 LA/LIBS 並聯高解析度 HR-ICPMS
分析技術線上研討會

輕鬆掌握三大重點:

▸雷射剝蝕技術原理簡介
▸讓 ICPMS 直接量測固體可帶來哪些分析上的優勢
▸應用實例分享–介紹粉體原料、電池材料如何直接分析元素濃度跟三維分佈

日期：2021年5月6日(四)
時間：下午 2 點
講者：陳姵君 技術專員 

線上報名

Tags

// 應用文章