2018年04月27日(五) 傳承與新思維-紅外線光譜儀的延伸與應用研討會

發布日期2018-04-27 分類

報名連結:https://goo.gl/forms/g3o9rfTqfWnfJQ9U2

研討會內容

隨著科技發展,新的分析檢測儀器越來越多,選擇合適的分析儀器,既能降低人力成本,又能提升檢測效率。

而紅外線光譜儀已發展超過半世紀,面對各大產業如光電、纖維、塑膠、橡膠、原物料、生產產品之檢測上,佔有一席之地,主要是因為測量方式簡單且快速,不需樣品前處理,直接上機分析,另外也可依照待測物特性,搭配不同的附件,像是熱重分析儀或顯微鏡等等,解決您的問題。

利泓科技基於在產業與學界多年累積之分析經驗,希望藉由此次研討會和與會貴賓分享及交流經驗。

歡迎各界先進踴躍報名參加及親臨會場指教!

研討會議程

 

時間

議程內容

講    者

13:00 – 13:30

報到

 

13:30 – 13:40

開場致詞

 

13:40 – 14:30

紅外線光譜儀分析您的樣品-樣品特性與延伸擴充

利泓科技技術支援部

呂昌諺 技術專員

14:30 – 15:00

Break Time

 

15:00 – 15:50

微觀聚焦產品中的未知汙染物-顯微光譜的應用與探討

利泓科技 技術支援部

呂昌諺 技術專員

15:50 –

實機操作與示範

Q&A

 

本次研討會為免費報名,提供以下方式進行報名:

  1. 網路報名:https://goo.gl/forms/g3o9rfTqfWnfJQ9U2
  2. 填寫下方報名表E-mail或傳真報名資料至本公司。E-mail: sales@rightek.com.tw  Tel: (04)2326-8555  Fax: (04)2310-7413

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一、會場資訊:

本次舉辦場地於逢甲大學 學思樓 一樓教室102室。

二、停車資訊:

請與會來賓將車輛停放至體育館地下停車場,再徒步至學思樓會場。

若車位已滿,建議停放於星享道公有停車場,再徒步至會場大樓(學思樓)。