首頁 產品介紹 分析儀器 AA& ICP-OES & ICP-MS AAS原子吸收光譜儀|Analytik Jena|三磁場塞曼校正
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ZEEnit 650 P 石墨爐塞曼校正原子吸收光譜儀 |
ZEEnit 700 P 火焰式+石墨爐塞曼校正原子吸收光譜儀 |
ZEEnit series 固體進樣 |
動態三磁場背景校正
傳統的塞曼效應背景校正理論(二磁場模式)是在零磁場時測定總吸光值,在最大磁場時僅測得背景吸收(最大磁場足夠大時,通過塞曼效應譜線分裂產生中心波長不變的組分π和波長頻移σ+、σ-的組分,通過偏振器過濾掉π,而σ+、σ-不被基態原子吸收故僅測得背景吸收),兩者相減得到帶測元素的吸收值,而動態三磁場背景校正,是在最大磁場和零磁場之間加入合適的中間磁場,在三種磁場下對樣品吸光值進行採集。零磁場時,吸收線不發生分裂,原子吸收靈敏度最大,透過光強度最小;最大磁場時,吸收譜線分裂裂距最大,透過的光強度幾乎不發生變化,吸光度為零;而在中間磁場則對應中等的吸光度和透光強度