AAS原子吸收光譜儀|Analytik Jena|三磁場塞曼校正

動態磁場校正原子吸收光譜儀

ZEEnit650P 石墨爐塞曼校正原子吸收光譜儀

ZEEnit700P 火焰式+石墨爐塞曼校正原子吸收光譜儀

石墨爐塞曼三磁場校正原子吸收光譜儀_利泓科技
ZEEnit 650 P 石墨爐
火焰式+石墨爐塞曼三磁場校正原子吸收光譜儀_利泓科技
ZEEnit 700 P 火焰式+石墨爐
固體進樣-塞曼三磁場校正原子吸收光譜儀_利泓科技
ZEEnit series 固體進樣
三磁場塞滿校正原子吸收光譜儀-校正複雜基質樣品_利泓科技
  • 光束路徑單光束和雙光束模式
  • 三磁場塞曼校正
  • D2氘空心陰極燈連續光源校正
  • 八燈座,RFID無線電波自動辨識技術:
    燈管電子標籤,識別燈管的類型、元素、序號、運行時的電流(預設值/最大值)、使用時數等資訊
  • 新式橫向加熱石墨爐技術取代傳統縱向加熱方式,改善石墨管溫度不均與冷凝的問題
  • 使用USB鏡頭直接觀測,同時進行方法的設置和優化

塞曼磁場背景校正

傳統的塞曼效應背景校正理論(二磁場模式)是在零磁場時測定總吸光值,在最大磁場時僅測得背景吸收。

如何得到純背景吸收值呢?
即在最大磁場足夠大時,通過塞曼效應譜線分裂產生中心波長不變的組分 π 和波長頻移 σ+、σ-的組分,通過偏振器過濾掉 π,而 σ+、σ-不被基態原子吸收故僅測得背景吸收。

將總吸光值與背景吸收值,兩者相減得到待測元素的吸收值。

動態三磁場背景校正

而德國耶拿的動態三磁場背景校正,是在最大磁場和零磁場之間加入合適的中間磁場,在三種磁場下對樣品吸光值進行採集。

動態三磁場背景校正優勢
零磁場時,吸收線不發生分裂,原子吸收靈敏度最大,透過光強度最小;

最大磁場時,吸收譜線分裂裂距最大,透過的光強度幾乎不發生變化,吸光度為零;
而在中間磁場則對應中等的吸光度和透光強度

比起二磁場模式,三磁場能夠在有效地擴展分析範圍之餘,避免產生塞曼反轉的可能;藉由調整磁場強弱,有效消除固定磁場內固定的光譜干擾。