首頁 產品介紹 分析儀器 AA& ICP-OES & ICP-MS AAS原子吸收光譜儀|Analytik Jena|三磁場塞曼校正
ZEEnit650P 石墨爐塞曼校正原子吸收光譜儀
ZEEnit700P 火焰式+石墨爐塞曼校正原子吸收光譜儀
傳統的塞曼效應背景校正理論(二磁場模式)是在零磁場時測定總吸光值,在最大磁場時僅測得背景吸收。
如何得到純背景吸收值呢?
即在最大磁場足夠大時,通過塞曼效應譜線分裂產生中心波長不變的組分 π 和波長頻移 σ+、σ-的組分,通過偏振器過濾掉 π,而 σ+、σ-不被基態原子吸收故僅測得背景吸收。
將總吸光值與背景吸收值,兩者相減得到待測元素的吸收值。
而德國耶拿的動態三磁場背景校正,是在最大磁場和零磁場之間加入合適的中間磁場,在三種磁場下對樣品吸光值進行採集。
動態三磁場背景校正優勢
零磁場時,吸收線不發生分裂,原子吸收靈敏度最大,透過光強度最小;
最大磁場時,吸收譜線分裂裂距最大,透過的光強度幾乎不發生變化,吸光度為零;
而在中間磁場則對應中等的吸光度和透光強度
比起二磁場模式,三磁場能夠在有效地擴展分析範圍之餘,避免產生塞曼反轉的可能;藉由調整磁場強弱,有效消除固定磁場內固定的光譜干擾。