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光誘導原子力顯微鏡PiFM; Photo induced Force Microscopy

Vista One 結合原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope)與紅外吸收光譜(Infrared absorption spectroscopy)的優點,取得樣品表面奈米維度的資訊:
1. 奈米級表面型態 (Nano-scale topography)
2. 奈米級分子結構資訊 (Nano-scale molecular information)
3. 毫秒(ms)分析速度

高解析度

10nm的光誘導力紅外光譜

1cm-1光譜解析度

單層分子空間解析度

10nm的光誘導原子力化學影像

單層分子空間解析度

適用有機與無機材料

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高靈活度

三維驅動聚光鏡,可容許多種波長的光源,可選擇聚焦在探針的固定位置,校準晶片自動依照懸臂(Cantilever)震盪,即時回饋AFM結果並維持近場雷射的光斑位置。可調式紅外雷射於100毫秒內完成光譜掃描,在維持奈米等級的空間解析度,於數分鐘內完成80微米平方的PiFM影像,軟體可以進行材料鑑別並自動依照成分做主成分分析(PCA)

提供底部觀測模式提供奈米級三維獨立掃描的分析方式,最多可加裝六種雷射,提供給PiFM與PiF-IR分析目的。支援sSNOM與共軛焦拉曼。

高移動精度

採用雙Z軸設計(Dual Z),XY方向移動採電容式感應器與光學編碼器自動載台(Stage),可維持100皮米(pico-meter)的精準度,在6毫米平方範圍內移動。Z軸採雙壓電掃描器,移動距離可達到12微米。

相較於單Z軸設計,可以提供更好的三維空間解析度。

高穩定度

Vista One測試探頭與掃描器採用殷鋼(Invar),在極高溫差也不會變形的特殊材質,避免環境熱產生的膨脹影響懸臂位置

Vista One採用低位探針,提供更穩定的分析環境,減少飄移並減弱聲波的影響,可以加裝高NA值的頂部透鏡,提供較好的樣品光學視野範圍。

量測環境高自由度

完整包覆顯微鏡的外罩,提供不同環境/真空的分析需求。外罩中可以充填任意氣體或控制不同濕度。隔音罩與防震桌及訊號線外圈包覆材質,降低聲波干擾。控制溫度誤差在正負0.1度C。

 

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