奈米分子結構解析技術 Nano IR

奈米分子結構解析技術 Nano IR

PiFM光誘導力顯微鏡 × 空間解析度 5 nm

日期 09.28(二)  時間 14:00 - 15:00  地點 網路研討會

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[ 課程簡介 ]

Nano IR 顧名思義就是具有奈米空間解析度的紅外光譜,現在要收集奈米分子資訊,多數人還是會使用 SEM 加上 EDS 的方式,可是這樣只能取得元素的分布,對於分子結構可能性無窮的有機分子,主要會得到 C、H、O、N 等含量,但是卻無法明確地取得結構資訊,因此部分的分析人員會搭配傅立葉轉換紅外光顯微鏡(FTIR-Microscope)來進一步了解樣品表面不同有機分子的分布,但是受限於紅外光的繞射極限,無法做到個位數微米以下的空間解析度。

Nano IR 這個分析技術的出現,打破了這一道分析的壁壘,讓分析人員可以在將分析能力下探至奈米等級,而在歷經SNOM、sSNOM到本次課程中介紹的PiFM─Photo-induced Force Microscope;光誘導力顯微鏡,可以將空間解析度下探至5個奈米,對於目前半導體有機層、聚合物製程微觀解析、奈米塑膠微粒等研究領域,都能提供過去無法觸及的分子結構資訊,增加研究分析人員更多的想法。

 

輕鬆掌握三大重點

1. 什麼是PiFM─Photo-induced Force Microscope;光誘導力顯微鏡

2. PiFM的應用

 

[ 講者介紹 ]

呂昌諺 Green Lu

技術支援部 光譜資深應用專員 Senior Technical Specialist

利泓科技股份有限公司 Rightek Co., Ltd.

 

任職於利泓科技7年,協助客戶開發可替代的光譜分析方法,解決既有光譜分析上的問題,以及提供現有設備擴充的建議。專長領域為Micro-FTIR、Micro-Raman以及高階螢光光譜儀。具有相當多年實際上在客戶端的經驗,協助客戶在材料研究與產業技術研發。

 

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