利用SEM/EDS和FTIR顯微鏡鑑定材料的有機跟無機成分

利用SEM/EDS和FTIR顯微鏡鑑定材料的有機跟無機成分

樣品製備到量測實例解析 × 產品缺陷與外來物分析

日期 08.12(四) 時間 14:30 - 15:30 地點 網路研討會

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[ 主題一 ]

SEM-EDS的分析方法 - 材料的表面結構與應用

[ 課程簡介 ]

有別於傳統落地款電子顯微鏡,不需外接其他的氣體來洩真空置換樣品。Phenom SEM桌上型電子顯微鏡利用專門的真空交換系統,可大幅縮短樣品成像時間。樣品放入機台後5秒光學成像,30秒電子顯微鏡成像,提高研究工作效率。

同時具備完整的可擴充性,在Phenom SEM桌上型電子顯微鏡的基礎上增加了多種分析軟體,無論是EDS/EDX元素分析、表面粗糙度、纖維量、粒徑、孔洞、石綿檢測等,滿足各項進階分析需求。

電子顯微鏡在高倍率下觀看影像時,往往對於環境的需求極高,成像品質除了機台本身的解析能力的限制外,還會受到環境中的磁場、震動影響。Phenom SEM桌上型電子顯微鏡本身對於環境的磁場、震動,進行了特殊設計,於一般實驗室桌子或展場桌上即可操作且不受環境影響。

輕鬆掌握三大重點

1. SEM及EDS原理
2. 樣品製備過程解析
3. 檢測結果分析實例分享

[ 講者介紹 ]

[ 主題二 ]

顯微紅外光譜儀在產品缺陷與外來異物的分析應用

[ 課程簡介 ]

紅外光譜自發展以來就持續應用於有機分子的結構鑑定,藉由官能基在特定光譜波數的吸收,取得材料或未知物的結構資訊。因此對於缺陷分析以及外來汙染物的分析可以提供更多元素以外的結構資訊。紅外光譜的光斑通常在直徑10mm的大小,對於需要顯微鏡才能觀察的異物,一般的紅外光譜無法進行分析,在本次的介紹中,我們會介紹可以縮小一千倍的顯微紅外光譜儀,一樣具備紅外吸收光譜的優點,但是可以對樣品表面做更細微的分區,空間解析度提升的狀況下,對於異物了分析能力也更加靈敏。

輕鬆掌握三大重點

1. 紅外吸收光譜的原理

2. 產品缺陷與外來異物分析的應用
3. 顯微紅外光譜的架構與工作原理

[ 講者介紹 ]

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