直接表面分析時代,您的ICP- MS該升級固體進樣了

以ICP- OES或ICP- MS進行微量元素檢測,已經是目前非常成熟的技術,其可快速分析且得到穩定數值。然而,進行此技術的同時,你應該時常遇到以下問題:

  • 耗費大量的時間在進行樣品前處理,如:均質樣品、加熱消化樣品。
  • 樣品結構穩定,嘗試了多種酸液,卻仍無法完全消解。
  • 煩惱如何排除因添加試劑,而產生的譜線干擾。

整合性分析軟體,升級至LIBS/ LA-ICP-MS串聯系統,提供廣泛元素檢測範圍ppt- % level,亦協助您的ICP- MS直接進行固體表面2D分析與深度3D分析

ASI (Applied Spectra Inc.)開發LIBS (Laser Induced Breakdown Spectroscopy)技術,可進行週期表上所有元素(包含C, H, O, N, F等輕元素)的鑑定分析外,獨家軟體設計,直接串聯實驗室ICP- MS,進行樣品微量分析。

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想了解更多關於LA/ LA- ICP- MS技術嗎?讓Dr. Russo說給你聽:https://youtu.be/Oa4Pl_f0TWY

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解決鹽酸中氯(Cl)干擾問題:使用fs LA- ICP- MS分析米殼中的砷(As)含量分布

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石油類樣品不易前處理? 利用TLC(Thin-Layer Chromatography)與fs LA- ICP- MS技術分析,排除您複雜的消化問題

石油類樣品在進行樣品前處理步驟時,需耗費大量樣品與試劑,此外,有機物質添加酸會產生劇烈反應。本文利用TLC技術分離待測物質,以fs LA- ICP- MS分析油品中的元素含量。

鋰電池爆炸之謎? LIBS於逆向工程中的量測應用

探討利用ASI LIBS進行電池中的表面元素分佈以及深度分析,從黏著劑(binder)、導電劑(conductive agent)、活性物質,一層一層追蹤材料的製程狀態。

分析製程之中含鹵物質! LIBS量測樣品中氟含量與分佈

在藥品、醫材用品以及塑膠產品中,F含量時常扮演製程中重要的角色,由於F的游離能極高,ICP的Ar電漿無法激發、游離F。

而LIBS則是以雷射剝蝕(LA)樣品,此種方式可產生比ICP更高能量的plasma(約15000-18000K),這也是為什麼可以使用LIBS量測F。

別讓XRF阻撓你品管電鍍膜層的能力! LIBS量測電鍍電路上Pb的應用

XRF檢測厚度極限約數10μm到1mm,因此,隨著膜層降低,受限於分析能力,無法得到良好的穩定性與準確性。本文以LIBS進行Pb分析,突破XRF限制,有效得到具可信度的量測數值。

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