5分鐘看完幾個ICP分析建議 - 如何預防和處理樣品分析錯誤(下)

這篇文章我們想讓你知道的是

你是否有注意過日常分析大約有多少樣品需要重新測量? 根據調查，重測樣品佔實驗室年平均8個工作天的時間，這也表示會使用更多的儀器耗材和人力成本。其實我們可以透過定期的儀器使用檢查去減少錯誤的發生，並且依循異常的分析結果判斷可能的故障源頭。
我們在上集整理了儀器相關的問題來源，這集我們接續討論樣品會造成的干擾有哪些？
還沒看過上集嗎？>>>如何預防和處理樣品分析錯誤(上)

1. 光譜干擾

ICP-OES的波長範圍涵蓋上萬條原子譜線與離子譜線，有時候非目標元素所放射出的譜線恰好干擾你想看的譜線，這種時候我們就會得到偏高的錯誤結果。通常在分析比較複雜的樣品時會遇到這種困擾。

我應該如何做？

• 同一個元素選取多條譜線，假如你不確定樣品中有什麼元素，你應該在方法建立時為同一個元素選取多條譜線，理想狀況是不同譜線的濃度應該要相同，因此我們可以從不同譜線的分析結果中判斷哪條譜線可能受到干擾
• IEC校正，假如你已知光譜干擾的存在，可以準備相應的元素標準溶液建立IEC校正來去除干擾

2. 檢量線問題

手動配製檢量線總會有發生失誤的時候，可能的來源有：

• 移液管定量失準
• 玻璃器材清潔不夠完全
• 元素標準品被汙染，例如直接用移液管取用標準品
• 標準品過期或失效
• 人為疏忽取用錯誤的元素標準品
• 過多或過少添加標準品
• 品質不良的標準品
• 誤用不合適的酸液

我應該如何做？

• 定期校正移液管，所有使用中的移液管應該要有電子紀錄應，且必須貼上最後校正日期標籤
• 避免直接取用標準品，應將標準品倒出來另外承裝，用剩的標準品不能再倒回原液
• 建立標準品使用期限電子紀錄
• ICV初始校正確認，檢量線製作完成後，應使用不同來源之另一標準品 (濃度約為該檢量線之中間濃度) ，檢查該檢量線之適用性
• 建立一良好的標準操作流程通常可以大幅減少錯誤的檢量線問題
• 使用單元素標準品配製多元素標準品時，務必查看標準品CoA紀錄雜質含量必須是可以忽略不計的程度
• 避免使用原子吸收光譜儀專用的標準品，通常會含有較高濃度的雜質
• 使用多元素標準品
• 使用重量標準校正的方式改善準確度

延伸閱讀：檢量線配製可以更簡單，全自動配標儀MiniLab-i

3. 空白/標準品/樣品的汙染

汙染可能源自於：

• 取樣的手法不佳
• 試劑的汙染
• 清潔不完全的消化的保存容器
• 純水不符合標準 

我應該如何做？

• 分析例行樣品或完全消化的樣品識別污染的存在。你也可以分析空白溶液跟上一次分析的值去比較，過高可能是有汙染建議更換空白溶液
• 拉長樣品間的潤洗時間以減少交叉汙染的狀況

延伸閱讀：ICP/ICP-MS背景值太高? 微量分析，你必須知道的注意事項

4. 樣品前處理

有時候我們過於專注在分析的過程，反而忽略了前處理的重要性。面對特定元素應注意必須使用合適的酸液去消化，例如鉑Pt族金屬應使用HCl和HNO₃。除此以外，也要避免使用的酸液是否會和目標元素產生反應，像是硫酸就會和鋇Ba、鉛Pb產生沉澱。

我應該如何做？

• 準備實驗室控制樣品(LCS)，具備和樣品類似的基質和相同的前處理方法，以已知濃度的LCS來檢查你的前處理方法是否正確
• 前處理方法如果需要添加HCl，可以在分析元素中加入Cl，從結果能夠推論是否有正確添加HCl

延伸閱讀：微波消化不完全，基礎原理分享

5. 複雜基質樣品

樣品中含有過多的易離子化元素(easily ionizable elements, EIE)，例如鈉Na、鉀K、鈣Ca、鎂Mg，會造成這些元素測值過高。

我應該如何做？

• 使用內標校正
• 稀釋樣品可以得到比較好的回收率
• 基質匹配(但是此方法並不是很容易尤其是面對未知樣品)
• 使用側向觀測

6. 樣品濃度超出檢量線範圍

當樣品值超出檢量線範圍時會導致測值不準確，分析結果不得記錄在報告中。

我應該如何做？

• 樣品稀釋或增加檢量線的範圍
• 一個元素選多條譜線，感度有高有低，當感度較好的譜線測值超出檢量線範圍時，你可以使用次靈敏的譜線
• 假如不想使用次靈敏譜線，使用自動稀釋器自動稀釋樣品
• 分析高濃度使用側向觀測

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