一探不織布形態及化學性質分析的方法

以電子為輻射源，掃描電子顯微鏡 (SEM) 提供比其他光學元件更高的空間分辨率（以奈米為單位）。SEM 的大景深有利於我們理解的特徵三維外觀樣品的表面結構。雖然化學元素及成分不同，可通過 SEM 圖像中的對比度表現出來(註)，確切的化學特性無法輕易確定，需要仰賴可辨別化學結構做為定性方法的分析儀器。