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AAS原子吸收光譜儀│Analytik Jena│三磁場塞曼校正

ZEEnit 650 P 石墨爐塞曼校正原子吸收光譜儀
ZEEnit 700 P 火焰式+石墨爐塞曼校正原子吸收光譜儀

ZEEnit 650 P

石墨爐塞曼校正原子吸收光譜儀

ZEEnit 700 P

火焰式+石墨爐塞曼校正原子吸收光譜儀

ZEEnit series

固體進樣

 
  • 光束路徑單光束和雙光束模式
  • 背景訊號校正
  • 三磁場塞曼校正
  • D2氘空心陰極燈連續光源校正
  • 八燈座,使用RFID無線電波自動辨識技術讀取燈管電子標籤,識別燈管的類型、元素、序號、運行時的電流(預設值/最大值)以及使用時數等資訊
  • 新一代的橫向加熱石墨爐技術取代傳統縱向加熱方式,改善石墨管溫度不均與冷凝的問題
  • 使用USB鏡頭直接觀測,同時進行方法的設置和優化

 

動態三磁場背景校正

傳統的塞曼效應背景校正理論(二磁場模式)是在零磁場時測定總吸光值,在最大磁場時僅測得背景吸收(最大磁場足夠大時,通過塞曼效應譜線分裂產生中心波長不變的組分π和波長頻移σ、σ的組分,通過偏振器過濾掉π,而σ、σ不被基態原子吸收故僅測得背景吸收),兩者相減得到帶測元素的吸收值,而動態三磁場背景校正,是在最大磁場和零磁場之間加入合適的中間磁場,在三種磁場下對樣品吸光值進行採集。零磁場時,吸收線不發生分裂,原子吸收靈敏度最大,透過光強度最小;最大磁場時,吸收譜線分裂裂距最大,透過的光強度幾乎不發生變化,吸光度為零;而在中間磁場則對應中等的吸光度和透光強度

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