Rightek

技術特色

• 奈秒(ns)、飛秒(fs)雷射源

快速直接固態進樣

• 不易前處理的固態樣品
• 適用於ICP/ ICP-MS

雷射自動調整高度

• 不受樣品表面狀態影響，可精準剝蝕目標待測物

探討元素/同位素在2D與3D的空間分佈

• 軟體支援所有廠牌ICP-MS

可升級為LIBS/LA Tandem系統，同時分析物質主成分與微量雜質

• LIBS可量測輕元素(ex) H, C, N, B, F等

應用文章

以LIBS/LA-ICP-MS進行鋰電池分析，量測主成分元素(ex)Li, O與微量不純物元素的深度分佈

在深度分析上，由LIBS可得知各層的主成分含量是否吻合製程設計。另外，藉由串連ICP-MS，我們可進一步得知微量元素含量，探討不純物對於電池效能的影響。(閱讀更多)

石油類樣品不易前處理? 利用TLC(Thin-Layer Chromatography)與fs LA- ICP- MS技術分析，排除您複雜的消化問題

石油類樣品在進行樣品前處理步驟時，需耗費大量樣品與試劑，此外，有機物質添加酸會產生劇烈反應。本文利用TLC技術分離待測物質，以fs LA- ICP- MS分析油品中的元素含量。(閱讀更多)

解決鹽酸中氯(Cl)干擾問題：使用fs LA- ICP- MS分析米殼中的砷(As)含量分布

本文藉由fs LA直接剝蝕稻米，進行深度分析，探討米粒在不同厚度時的含As程度。由於無須額外添加試劑進行消化，有效解決₄₀Ar₃₅Cl⁺干擾問題。(閱讀更多)