Difftech XRD
X光薄膜粉末繞射儀

GBC MMA Difftech XRD
X光薄膜粉末繞射儀


商品描述:

  • X光繞射為一多功用且為非破壞性之測量技術,其功用在於鑑定結晶材料之結構與化學資訊
  • 可搭配不同物件進行變溫、變壓、不同物質形態或多樣品同時鑑定使用
  • 可搭配螢光分析偵測器(XRF)進行元素分析
  • 用於鑑定未知樣品為單相或多相材料
  • 用於探討物種相之百分率
  • 結晶學的結構分析、表面與薄膜分析
  • 應用領域:陶瓷工業、金屬材料、高分子工業、半導體工業、光電產業、能源產業、冶金工業、多孔性材料、化學合成、玻璃工業、礦石產業

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